Auf der Embedded World 2018 zeigt Parasoft, Anbieter von automatisierten Softwaretest-Technologien, seine automatisierten Testlösungen für embedded, sicherheitskritische und IoT-Software auf Stand 478 in Halle 4: Parasoft C/C++test ist eine einheitliche Entwicklungstestlösung für C und C++. Mit hochentwickelten Technologien für die statische Analyse und Modultests erleichtert sie die Software-Entwicklung, rigorose Fehlererkennung und Behebung von Sicherheitslücken. Diese Lösung lässt sich ohne großen Aufwand in die leistungsstarken Reporting- und Analysetools der Parasoft DTP (Development Testing Platform) integrieren, um Qualitäts- und Compliance-Initiativen effizienter zu gestalten.
Parasoft zeigt Embedded Entwicklern, wie die folgenden Features sie bei den Herausforderungen von Software-Entwicklungstests unterstützen:
– Uneingeschränkte Unterstützung für MISRA C 2012 & MISRA 2008 Guidelines durch effizientes Compliance-Reporting (MISRA 2016).
– Optimierte Entwicklungs- und Testaktivitäten durch innovative Technologien (u.a. Parasofts Risky Code Changes, Change-Based Testing und Merged Correlated Coverage), die die Auswirkungen von Veränderungen analysieren können.
– Erfassen der Abdeckung und Bereitstellen von Traceability Reports für Open Source Unit Test- Frameworks wie CPPunit, CppUTest und Google Test in C/C++ Umgebungen.
– Ermöglichung von uneingeschränkten End-to-End-Tests von vernetzten / IoT-Architekturen durch Simulation der API-Test und Nachrichtenschicht zur vollen Kontrolle der Testumgebung.
Auf dem Forum in Halle 3A präsentiert Parasoft den Vortrag ‘How to accelerate Agile and optimize testing with Intelligent Analytics’ am Dienstag, 27.2. um 13:30 Uhr. Hier erfahren Interessenten mehr über:
– Grundlagen und Best Practises der Testpyramide
– Analysetechniken zur schnellen Identifizierung der “echten Risiken” im Code
– Wie man den Testaufwand fokussiert und neue, zu erstellende Tests ermittelt, und
– Best Practises um “automatisierte Tests” in “Dauertests” umzuwandeln.
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